Научно-технический центр исследования качества проводит анализ электронной компонентной базы с целью установления причин отказов, связанных с качеством изготовления или нарушением эксплуатационных требований, при применении ЭКБ в аппаратуре.
Специалисты центра, на основе анализа этапа жизненного цикла, условий применения и режимов эксплуатации изделия электронной компонентной базы, подберут оптимальные методы и разработают программу анализа ЭКБ.
Неразрушающие методы анализа
- внешний визуальный контроль
- диагностика ЭКБ по информативным параметрам
- измерения при воздействии дестабилизирующих факторов (климатические, механические)
- электротепловой контроль
- рентгеновский контроль
- акустическая микроскопия
- контроль герметичности
- определение наличия посторонних частиц в подкорпусном объеме и др.
Разрушающие методы анализа
- внутренний визуальный контроль
- контроль прочности внутренних соединений
- проверка прочности крепления кристалла на сдвиг
- измерение электрических параметров отдельных элементов кристаллов с помощью зондовой станции
- растровая электронная микроскопия
- рентгеноспектральный микроанализ
- послойное препарирование технологических слоев полупроводниковых структур
- плазмохимическое травление и др.
